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國立成功大學 電機工程學系碩博士班 戴政祺所指導 陳耿堯的 結合音射探頭組與單晶片微控制器檢測電路之局部放電檢測系統 （2012），提出石門 發電廠 Dcard關鍵因素是什麼，來自於局部放電、音射法、音射探頭組、局部放電檢測器、模鑄式比流器。
結合音射探頭組與單晶片微控制器檢測電路之局部放電檢測系統
為了解決石門 發電廠 Dcard 的問題，作者陳耿堯 這樣論述：
局部放電檢測用以檢測電力設備內部絕緣材料劣化的情形，以避免因為局部放電而導致電力設備故障甚至燒毀的情形發生。本論文主要是利用音射探頭組(AE Sensor pair)擷取局部放電訊號以及環境周圍聲音雜訊，避免單一音射探頭無法辨識訊號為內部局部放電或者為外部雜訊干擾的情形，並結合低功耗單晶片微控制器系統(TI MSP430)，使其自動辨別由音射探頭組偵測之訊號，將完整的放電資訊儲存在記憶卡中以供判讀，同時亦可將放大過的原始訊號經由示波器觀察。經由筆尖折斷放電模擬實驗證實本系統具備辨別放電訊號以及周圍雜訊的功能。再者透過儲存在記憶卡中之放電次數與時間可以判斷被測物的局部放電嚴重程度。此外，亦可使
用多組音射探頭組做簡易局部放電定位，找出放電源。本系統除了可做為長期追蹤紀錄之用，也可提供重要的統計分析資料。